電子產(chǎn)品做高低溫試驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)與方案

高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試，是環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)，試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)價(jià)高低溫條件對(duì)裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響。基本上所有的產(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。因?yàn)楫a(chǎn)品在制造、搬運(yùn)或儲(chǔ)存應(yīng)用時(shí)會(huì)面臨著各種各樣不同的溫濕度、氣候以及外界條件的等等影響。電子產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)是比較普遍的氣候環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目類型之一，高低溫試驗(yàn)尤為常見。

1. 高溫試驗(yàn)：

高溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2、IEIA 364、MIL-STD-810F等。

測(cè)試目的：檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適用性
測(cè)試設(shè)備：恒溫恒濕測(cè)試箱
測(cè)試樣品：電子產(chǎn)品
測(cè)試內(nèi)容：被測(cè)產(chǎn)品不包裝、處于導(dǎo)通狀態(tài)，以正常位置放入測(cè)試箱內(nèi)，使溫度達(dá)到+55±2℃,溫度穩(wěn)定后，持續(xù)8小時(shí)，持續(xù)期滿，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試后的檢查。
判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測(cè)試；外觀和結(jié)構(gòu)正常。
2. 低溫試驗(yàn)：

低溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1、EIA 364、MIL-STD-810F等。

測(cè)試目的：檢驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下使用的適用性。
測(cè)試設(shè)備：高低溫測(cè)試箱
測(cè)試樣品：電子產(chǎn)品
測(cè)試內(nèi)容：被測(cè)產(chǎn)品不包裝、處于導(dǎo)通狀態(tài)，以正常位置放入測(cè)試箱內(nèi)，使溫度達(dá)到-20±3℃,溫度穩(wěn)定后，持續(xù)8小時(shí)，持續(xù)期滿，進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試后的檢查。
判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測(cè)試；外觀和結(jié)構(gòu)正常。
3. 溫度沖擊試驗(yàn)：

溫度沖擊試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IEC60068-2-14、GB2423.22、GJB150.5等

測(cè)試目的：檢驗(yàn)產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度訊速變化的能力
測(cè)試設(shè)備：冷熱沖擊測(cè)試箱
測(cè)試樣品：電子產(chǎn)品
測(cè)試內(nèi)容：被測(cè)產(chǎn)品不包裝、不導(dǎo)通或不帶電池狀態(tài)，以正常位置放入測(cè)試箱內(nèi)，高溫為60℃，穩(wěn)定溫度保持時(shí)間為2小時(shí)，低溫為-20℃，，穩(wěn)定溫度保持時(shí)間為2小時(shí)，轉(zhuǎn)換時(shí)間不大于15秒，循環(huán)次數(shù)為12次（1循環(huán)周期為4小時(shí)），循環(huán)期滿，在正常大氣條件下放置2小時(shí)，放置期滿，被檢樣機(jī)立即進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試后的檢查。
判定標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品外觀和結(jié)構(gòu)正常。功能、性能方面正常。

4. 快速溫變?cè)囼?yàn)：

快速溫變?cè)囼?yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。

試驗(yàn)過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)循環(huán)，溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍、停留時(shí)間以及循環(huán)數(shù)來決定的。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、JB150.5等。

測(cè)試目的：檢驗(yàn)產(chǎn)品在經(jīng)受溫度環(huán)境條件下逐漸變化的能力
測(cè)試設(shè)備：恒溫恒濕測(cè)試箱
測(cè)試樣品：電子產(chǎn)品
測(cè)試內(nèi)容：導(dǎo)通狀態(tài)下，按照-20℃溫度放置1H，55℃放置1H,轉(zhuǎn)換時(shí)間30min設(shè)置進(jìn)行測(cè)試，共連續(xù)進(jìn)行5次循環(huán)，測(cè)試結(jié)束后進(jìn)行測(cè)試。
判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測(cè)試；外觀和結(jié)構(gòu)正常。

5.交變濕熱試驗(yàn)：

高低溫交變濕熱試驗(yàn)是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試項(xiàng)目，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.3、GB/T 2423.4。

測(cè)試目的：檢驗(yàn)產(chǎn)品在恒定濕熱環(huán)境條件下使用的適用性
測(cè)試設(shè)備：交變濕熱測(cè)試箱
測(cè)試樣品：電子產(chǎn)品
測(cè)試內(nèi)容：被測(cè)產(chǎn)品不包裝、處于導(dǎo)通狀態(tài)，以正常位置放入測(cè)試箱內(nèi)，使溫度達(dá)到40±2℃,濕度達(dá)到 95%，持續(xù)96小時(shí)，持續(xù)期滿，立即進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試后的檢查。
判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測(cè)試；外觀和結(jié)構(gòu)正常。