一、前言：

半導體器件（如集成電路、二極管、晶體管等）在高溫高濕環境下，易因封裝吸濕、金屬化層腐蝕、絕緣性能下降、漏電增大等問題引發性能漂移或失效。為科學評估其耐濕熱穩定性，適用于塑封及非氣密封裝半導體器件的耐濕熱性能驗證、可靠性篩選與壽命評估。

二、測試準備：

1. 測試設備

恒溫恒濕試驗箱：控溫范圍 - 70℃~150℃，精度 ±1℃；控濕范圍 20%~98% RH，精度 ±3% RH，具備均勻氣流循環與防結露設計。

2. 樣品要求

選取同一批次、外觀完好、無封裝破損、無氧化的半導體器件，數量不少于 15 顆（10 顆測試，5 顆備用）。

測試前用無水乙醇清潔樣品表面，去除污漬與雜質，常溫靜置 30min，完成初始狀態確認。

三、測試流程：

1. 設備校準與參數設置

校準試驗箱溫濕度傳感器，確保控溫控濕精度達標。

設置試驗參數：溫度 85℃±2℃，相對濕度 85%±5% RH，升溫速率≤3℃/min，加濕平穩，避免樣品表面結露。

設定測試時長 1000h，中間檢測節點為 240h、500h、1000h。

2. 樣品放置

將樣品均勻放置于試驗箱夾具，樣品間距≥10mm，確保氣流均勻流通，避免相互遮擋。

連接通電測試回路（按需設置偏置電壓，通常為額定電壓 80%），模擬器件工作狀態；無偏置測試則僅放置樣品，不通電。

關閉箱門，檢查密封性能，確認無誤后啟動試驗。

3. 測試執行

階段 1：升溫加濕。以≤3℃/min 速率升溫至 85℃，同步平穩加濕至 85% RH，避免溫濕度驟變。

階段 2：恒溫恒濕測試。維持 85℃/85% RH 環境，連續運行 1000h，每小時記錄試驗箱溫濕度，確保波動在允許范圍內。

階段 3：中間檢測。到達 240h、500h 時，暫停試驗，緩慢降溫除濕（降溫速率≤1℃/min）至 25℃±2℃、50%±5% RH，靜置 1h 后，取出樣品檢測外觀與電氣性能，記錄數據。

階段 4：測試結束。1000h 到達后，按上述步驟恢復至常溫常濕，靜置 1~2h，完成終檢測。

4. 測試后檢測

外觀檢測：再次檢查封裝、引腳，記錄裂紋、起泡、變色、腐蝕、分層等異常。

電氣性能檢測：重復初始檢測項目，測試關鍵參數，與初始值、中間值對比，判定性能變化。

失效判定：參數漂移超 ±20%、絕緣電阻下降超一個數量級、漏電流超標、外觀明顯缺陷，判定為失效。

三、測試數據記錄示例：